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PTC熱敏電阻測(cè)試儀

PTC熱敏電阻測(cè)試儀

產(chǎn)品型號(hào): AT5112

所屬分類(lèi):微歐姆計(jì)電阻計(jì)

產(chǎn)品時(shí)間:2024-05-08

簡(jiǎn)要描述:● 測(cè)試準(zhǔn)確度:0.3%
● 測(cè)試范圍:0~100Ω
● 測(cè)試電流:1mA
● 雙路同時(shí)測(cè)試:標(biāo)準(zhǔn)件和被測(cè)件同時(shí)檢測(cè)

詳細(xì)說(shuō)明:

AT5112是針對(duì)熱敏電阻的雙路測(cè)試儀,內(nèi)置2路電阻測(cè)試電路,可同時(shí)對(duì)標(biāo)準(zhǔn)PTC和被測(cè)PTC進(jìn)行測(cè)試得出差值并換算成實(shí)際值,忽略PTC的自身溫度敏感特性,達(dá)到精確測(cè)試,測(cè)試誤差小于0.1Ω,準(zhǔn)確度0.1%。
采樣微處理器控制的AT5112可實(shí)現(xiàn)不開(kāi)蓋校準(zhǔn),其zui高測(cè)試速度高達(dá)50次/秒,無(wú)論是人工測(cè)試或是自動(dòng)化測(cè)試都應(yīng)付自如。



 

 
 
 
技術(shù)規(guī)格
測(cè)試準(zhǔn)確度:0.3%
測(cè)試范圍:0~100Ω
測(cè)試電流:1mA
雙路同時(shí)測(cè)試:標(biāo)準(zhǔn)件和被測(cè)件同時(shí)檢測(cè)
性能特征
內(nèi)置比較器設(shè)置
可選Handler接口
應(yīng)用
PTC熱敏電阻的測(cè)試



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