EMI電磁干擾預(yù)測(cè)試

產(chǎn)品型號(hào)： EMI電磁干擾預(yù)測(cè)試

所屬分類：電磁兼容EMI測(cè)試

產(chǎn)品時(shí)間：2024-05-07

簡(jiǎn)要描述：EMI測(cè)試系統(tǒng)是為了符合嚴(yán)格的安規(guī)認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)，產(chǎn)品必須通過全面的符合性測(cè)試，通過安全和EMI/RF的要求，在產(chǎn)品送至實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行認(rèn)證之前，如果能夠提供前期的測(cè)試來消除錯(cuò)誤，不但可以節(jié)省往返實(shí)驗(yàn)室花費(fèi)的工作時(shí)間與金錢，更可以加速產(chǎn)品的開發(fā)周期。

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一、導(dǎo)論

現(xiàn)代的電子產(chǎn)品，功能越來越強(qiáng)大，電子線路也越來越復(fù)雜，電磁干擾（EMI）和電磁兼容性問題變成了主要問題，電路設(shè)計(jì)對(duì)設(shè)計(jì)師的技術(shù)水準(zhǔn)要求也越來越高。*的計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)（CAD）在電子線路設(shè)計(jì)方面大大的協(xié)助了電路設(shè)計(jì)人員的能力，但對(duì)于在電磁兼容或電磁干擾上的設(shè)計(jì)幫助卻很有限。

電磁兼容設(shè)計(jì)實(shí)際上就是針對(duì)電子產(chǎn)品中產(chǎn)生的電磁干擾進(jìn)行*化設(shè)計(jì)，使之能成為符合各國(guó)或地區(qū)電磁兼容性標(biāo)準(zhǔn)的產(chǎn)品。

每位設(shè)計(jì)工程師可能都有類似的經(jīng)驗(yàn)，在嘗試控制某段的電磁頻譜時(shí)，另一段的電磁輻射頻譜往往會(huì)增強(qiáng)。其結(jié)果可能為，當(dāng)工程人員努力滿足其法規(guī)所設(shè)定的發(fā)射限度時(shí)，卻可能超出了輻射發(fā)射限度；更要命的是，如果達(dá)不到規(guī)定的EMI限度要求，產(chǎn)品就無法上市銷售。

二、有關(guān)EMC

電磁兼容性（EMC）是指『一種器件、設(shè)備或系統(tǒng)的性能，它可以使其在自身環(huán)境下正常工作并且同時(shí)不會(huì)對(duì)此環(huán)境中任何其它設(shè)備產(chǎn)生強(qiáng)烈電磁干擾?！灰庵鸽娮訖C(jī)器有兩面性，一個(gè)為噪聲源對(duì)其他電子儀器造成的影響，一個(gè)為受到周圍電子儀器發(fā)生的噪聲影響。而要顧及到兩者的平衡，才有EMC的課題出現(xiàn)。

EMC的產(chǎn)品認(rèn)證，目前主要依據(jù)的法規(guī)有FCC，CISPR，ANSI，VCCI 及 EN…等規(guī)范，而這些EMC標(biāo)準(zhǔn)對(duì)于產(chǎn)品的測(cè)試要求，可分為兩大測(cè)試題，一為電磁干擾（EMI）測(cè)試，另一為電磁耐受性（EMS）測(cè)試。

三、EMI量測(cè)項(xiàng)目

一般有關(guān)于各國(guó)對(duì)于EMI法規(guī)要求的量測(cè)項(xiàng)目如下：

²   傳導(dǎo)量測(cè)（CE）：測(cè)試方式為藉由待測(cè)產(chǎn)品的電源線連接至仿真電源阻抗網(wǎng)絡(luò)器（LISN），將待測(cè)產(chǎn)品的電波噪聲位準(zhǔn)傳至量測(cè)接收機(jī)，取得噪聲位準(zhǔn)。

²   輻射量測(cè)（RE）：測(cè)試方法為待測(cè)產(chǎn)品于正常使用狀態(tài)下，藉由空中傳送待測(cè)產(chǎn)品所產(chǎn)生的電波至3M或10M遠(yuǎn)的天線接收，再轉(zhuǎn)送至量測(cè)接收機(jī)，取得噪聲位準(zhǔn)。

四、EMS量測(cè)項(xiàng)目

一般有關(guān)于EMS的要求，目前以歐洲共同市場(chǎng)的CE-Mark要求為主：

²   輻射耐受性量測(cè)（RS）

²   傳導(dǎo)耐受性量測(cè)（CS）

EMI電磁干擾測(cè)試介紹

EMI測(cè)試系統(tǒng)是為了符合嚴(yán)格的安規(guī)認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)，產(chǎn)品必須通過全面的符合性測(cè)試，通過安全和EMI/RF的要求，在產(chǎn)品送至實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行認(rèn)證之前，如果能夠提供前期的測(cè)試來消除錯(cuò)誤，不但可以節(jié)省往返實(shí)驗(yàn)室花費(fèi)的工作時(shí)間與金錢，更可以加速產(chǎn)品的開發(fā)周期。

EMC介紹

•緣由：電子機(jī)器有兩面性，一個(gè)為雜訊源對(duì)其他電子儀器造成的影響，一個(gè)為受到周圍電子儀器發(fā)生的雜訊影響。而要顧及到兩者的平衡，才有EMC的課題出現(xiàn)。

EMC （Electromagnetic Compatibility）：電磁相容

某一設(shè)備或系統(tǒng)在電磁環(huán)境之下可以正常的運(yùn)作，而且不對(duì)此環(huán)境中的任何設(shè)備產(chǎn)生難以忍受的電磁干擾之能力。

EMI （Electromagnetic Interference）：電磁干擾

任何可能會(huì)降低某個(gè)裝置、設(shè)備或系統(tǒng)的性能，或可能對(duì)生物或物質(zhì)產(chǎn)生不良影響之電磁效應(yīng)。一般而言，電磁干擾又可以區(qū)分為輻射干擾與傳導(dǎo)干擾兩種。

EMS （Electromagnetic Susceptibility）：電磁耐受

某一裝置、設(shè)備或系統(tǒng)在電磁環(huán)境之下，其性能不會(huì)造成劣化的程度。

EMC包含EMI+EMS兩個(gè)項(xiàng)目

EMI介紹

對(duì)雜訊區(qū)分

1） 傳導(dǎo)妨害波：經(jīng)過電源線傳導(dǎo)出去的電波，頻率30MHz以下者稱之。

2） 輻射妨害波及其直接輻射出去的電磁波，從30MHz～1GHz皆為管制對(duì)象。

EMI測(cè)量的相關(guān)規(guī)定

1）      EMI所測(cè)量的項(xiàng)目，30MHz以下所測(cè)量的為電源傳導(dǎo)，30MHz-1GHz所測(cè)量的為輻射傳導(dǎo)。

2）      在測(cè)定儀器設(shè)定必須在RBW = 9K & 120KHz下達(dá)成下面的目標(biāo)。

3）      此環(huán)境必須在背景雜訊極低的條件場(chǎng)所或隔離外界干擾源之環(huán)境底下才能得到量測(cè)標(biāo)準(zhǔn)值。

CISPR 22所設(shè)定的標(biāo)準(zhǔn)（資訊技術(shù)等級(jí)B）

EMI的產(chǎn)品認(rèn)證，目前主要依據(jù)的法規(guī)有FCC,CISPR,ANSI,VCCI及EN等規(guī)范，而這些EMI標(biāo)準(zhǔn)對(duì)于產(chǎn)品的測(cè)試要求，可分為兩個(gè)測(cè)試項(xiàng)目：

一．     輻射CE測(cè)試

測(cè)試方法為待測(cè)產(chǎn)品于正常使用狀態(tài)下，使用進(jìn)場(chǎng)天線接近待測(cè)物散發(fā)出來的輻射信號(hào)，再轉(zhuǎn)送至測(cè)試接收機(jī)頻譜儀，取得雜訊的一個(gè)位準(zhǔn)值。

二．     傳導(dǎo)測(cè)試：測(cè)試方法是根據(jù)待測(cè)產(chǎn)品的電源線連接至線路阻抗穩(wěn)定網(wǎng)絡(luò)LISN,由此分離出待測(cè)產(chǎn)品的電波噪聲傳至頻譜儀，取得噪聲的數(shù)據(jù)值。

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