全功能RAM分析測試儀
產(chǎn)品型號: IST6500
所屬分類:集成電路測試儀
產(chǎn)品時間:2024-05-07
簡要描述:具有Sorting功能,可將從ATE中淘汰下來的DRAM(含任何封裝形式),自動作內(nèi)部從新組合(將損壞部份之I/O線路Disable),即可再使用。
產(chǎn)品特點:
·具有Sorting功能,可將從ATE中淘汰下來的DRAM(含任何封裝形式),
自動作內(nèi)部從新組合(將損壞部份之I/O線路Disable),即可再使
用。
·內(nèi)建有可設(shè)定的動態(tài)負(fù)載(dynamicloading)及雙臨界值、超快速之比
較器,對于測試中常須驅(qū)動資科匯流排上高電容及低電阻負(fù)載時,相
當(dāng)有用。
·提供基本型、加強型、快檢型及自行定義型的測試圓形
(testpatterm)。
·對工作電流(1ccl),備用電流(1cc2)及資料保持電流(1dr)提供了精
確的量測及GO/NOGO測試。廣大的測試范圍之種類:記憶容量范圍從
4K x 1-l6Mx1,1K x 4-4M x 4,2K x 8-512K x8。SIMM之腳數(shù)有
30pin,64pin,72pin,200pin。適用封裝方式
DIP.ZIP.SOJ.SIP.PLCC及TSOP。
·DRAM的動態(tài)參數(shù)Trad.Trcd(解析度為1ns)及刷新間隔*可依電路的
要求來設(shè)定,此實時的功能測試,避免了在儀器上測誠是好的,但實
際在工作中卻是壞的困擾。
·主機采用插入式模塊設(shè)計,可隨時做功能提升
·對DRAM、SIMM.SRAM及PCMCIA卡提供實時的功能分析測試。
·具有2ns解析度及多種測量模式的精準(zhǔn)存取時間量測(Tace.Taa,
Trac,Tcac)。
·使用DMA及高速硬體測試電路,大量降低測試時間。