集成電路測試儀
產(chǎn)品型號(hào): ICT33C
所屬分類:集成電路測試儀
產(chǎn)品時(shí)間:2024-05-07
簡要描述:◆器件好壞判別:當(dāng)不知被測器件的好壞時(shí),儀器可判斷其好壞。◆器件型號(hào)判別:當(dāng)不知被測器件型號(hào)時(shí),儀器可依據(jù)其邏輯功能來判斷 其型號(hào)。◆器件老化測試:當(dāng)懷疑被測器件的穩(wěn)定性時(shí),儀器可對(duì)其進(jìn)行連續(xù)老化測試。◆器件代換查詢:儀器可顯示有無邏輯功能*,引腳排列*的器件型號(hào)。
詳細(xì)說明:
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