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電路在線故障測試儀

電路在線故障測試儀

產(chǎn)品型號: BW4080VX

所屬分類:電路板故障檢測儀

產(chǎn)品時間:2024-05-07

簡要描述:世界上*臺多層板短路控測器
提供制造商及呂管部門Z佳的利器,使您
*提高品質(zhì),增加產(chǎn)量
*減少報廢及切割的困擾
*縮短再檢修的時間及降低成本

詳細(xì)說明:

產(chǎn)品特點:
BW4080VX功能介紹

——由新加坡PROTEQ生產(chǎn)的BoardWirard(創(chuàng)能)
①BW4080VX為一體化、*的電路板故障診斷和維修設(shè)備,其特殊的設(shè)計可滿足印制電路

修理/維護(hù)市場的需要,適用于印制電路板使用±12V器件的故障診斷。它為電路板的自動

修提供了價廉物美的測試工具。模件板可擴(kuò)展性確保你在將來測試多于40腳的器件時仍能

供服務(wù),它只要再加上一個插入式驅(qū)動板,就可將通道數(shù)目擴(kuò)展到80個,而無需改變軟
件。
②創(chuàng)能BW4080VX測試儀將測試與動態(tài)阻抗測試組合在一起,提供了*的故障診斷率,并

節(jié)省維修人員的時間,因此,可提高檢修故障印制電路板的生產(chǎn)率。

——有效、可靠的測試方法
BoardWirard(創(chuàng)能)為快速診斷故障提供三種測試方法,這三種測試方法為:
在線功能測試(ICFT)
VI曲線分析
電路追蹤法
通過使用這三種方法,可以診斷出大多數(shù)需要檢修的問題,例如總線故障、輸出故障、IC

能錯誤、電源Vcc加載軌跡、短路、多層短路、光耦電容故障、開路以及許多其它故障。
所有這些測試均可使用“先學(xué)習(xí),后測試”的方法,實現(xiàn)無需電路圖進(jìn)行故障檢修,通過

一個工作正常板進(jìn)行學(xué)習(xí),建立一個標(biāo)示圖數(shù)據(jù)庫。這些存貯的標(biāo)示圖庫為將來測試故障

作為比較用。根據(jù)這點,也可開發(fā)一些測試方法,作為在廠質(zhì)量控制用。

——在線功能測試(ICFT)
這是一種全面的功能測試,它對一個加有電源的IC,在一個特定的測試模型下,檢查所有

腳的響應(yīng)。在這種測試方法下,根據(jù)預(yù)先確定的測試邏輯模型來驅(qū)動器件的輸入,要保證
IC
實現(xiàn)實際驅(qū)動條件下的特性。必須打開電源測試。
要測試一個器件,只需選定器件的型號,并把測試夾放在器件上,系統(tǒng)將根據(jù)這個器件作

能測試,并立即顯示通過/故障結(jié)果,響應(yīng)不正確的針腳,自動地用高亮標(biāo)識在顯示屏上。
ICFT也可檢測器件的任何非法連接,能夠?qū)W習(xí)并存貯板的標(biāo)示圖,為將來測試其它類似的

作為比較用。用這種方法,只需用很短的時間就能檢測出PCB上大多數(shù)的故障。
您還可以通過使用以下三種方法,能為器件產(chǎn)生新的測試程序。
波形編輯
自動生成(LSI)
測試語言 BOTL和LSI
可利用自動測試程序產(chǎn)生功能完成存貯器件測試。

——VI曲線
這種測試,在電源關(guān)的條件下,對一器件的電路的接點測量動態(tài)阻抗(電壓/電流),其結(jié)
果稱之為VI曲線,與學(xué)習(xí)來并存貯的曲線進(jìn)行比較。若與存貯曲線相比產(chǎn)生的任何形式的

差超出了設(shè)置的誤差容*,立即用高亮標(biāo)識。
VI比較能診斷出故障元件、錯誤值,不同的誤差容限和許多用普通示波器測試很難確定的

妙的差別。

---電路追蹤
這種測試學(xué)習(xí)板上器件之間的連接以及器件自身的連接。它為技術(shù)人員測試一個板的整體

路提供了一個簡便的工具。它用于確定位PCB的軌跡故障。例如短路或開路,板上IC排列方
向錯誤和放置錯誤。
利用建立的IC連接數(shù)據(jù)庫,在選件CAD的幫助下,可產(chǎn)生原理圖。

性能參數(shù):
——測試方法
用內(nèi)部產(chǎn)生的測試模型激勵后備驅(qū)動被測器件,器件的響應(yīng)可與邏輯值、存貯的響應(yīng)
或用戶編程的存貯響應(yīng)相比較。
——測試接口
40個通道(基本配置),插入驅(qū)動板后可擴(kuò)展到80個通道。
——在線功能測試(ICFT)
可編程的測試量程
測試量程 低 高
TTL 松 0-1.3V 1.5-5V
TTL 緊 0-0.8V 2.0-5V
CMOS 松 0-2.4V 2.6-5V
CMOS 緊 0-1.5V 3.5-5V
在電流為200mA,頻率為250KHz條件下。

測試器件庫
內(nèi)含測試程序超過3000個TTL、CMOS、ECL技術(shù)芯片,包括LSI和存貯器芯片。

可編程的測試輸入
具有8個可編程控制針腳的20/40針測試夾,提供高達(dá)±12V、200mA,若需要可提供更多針

數(shù)的測試夾。

可編程的被測器件電源
zui大可達(dá)到12V、5A。若需要更大的電流(高達(dá)10A)和其它的電壓值。要使用外加電源。

電阻/電容測量
電阻量程: 100Ω-300Ω(誤差容限 ±5%)
10Ω-100Ω(誤差容限 ±10%)
<10Ω 短路
電容量程: 1μF到10μF(誤差容限 ±5%)
電壓測量: zui大的被測器件電源電壓

讀數(shù)指示
邏輯波形和結(jié)果顯示在顯示器上,可采用屏幕打印輸出
——VI曲線
測試方式:測試 存貯
測試波形:24Vpp (1.2mA)
源阻抗:1kΩ
測試輸入:20/40針測試夾或探針
讀數(shù)顯示:波形和結(jié)果顯示在顯示屏上,可采用屏幕打印輸出
——電路追蹤
IC連接:存貯被測板的標(biāo)示圖
原理圖產(chǎn)生:將所學(xué)習(xí)的IC連接數(shù)據(jù)裝入EE設(shè)計器CAD軟件包內(nèi),產(chǎn)生原理圖,這
種用途需要CAD軟件,作為選件提供。
——電源需求
110V/220V,47-63Hz,200VA
——物理特性
體積:460×300×390mm 重量:28公斤

 
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