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DC耐壓測(cè)試儀有什么缺點(diǎn)呢?
點(diǎn)擊次數(shù):1797 更新時(shí)間:2014-01-14
由于DC耐壓測(cè)試的確給被測(cè)物(DUT)充電,為了消除在耐壓測(cè)試后處置被測(cè)物(DUT) 之操作員觸電的危險(xiǎn),在測(cè)試后就必須給該被測(cè)物(DUT)放電。DC測(cè)試會(huì)對(duì)電容充電。如果DUT實(shí)際上用交流電源的話,DC法就沒有模擬實(shí)際情況。