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LCR測(cè)試儀的基本精度與實(shí)際精度有何不同

點(diǎn)擊次數(shù):1724 更新時(shí)間:2014-01-06

LCR測(cè)試儀的基本精度,是在理想情況下能得到的*精度,基本精度排不會(huì)增加額外誤差因素,如夾具或測(cè)試線。早*測(cè)試新華、頻率、zui高精度設(shè)置或zui慢測(cè)量速度以及*待測(cè)物阻抗的條件下進(jìn)行計(jì)算。因此,了解實(shí)際測(cè)量精度非常重要。測(cè)量范圍、測(cè)量速度、測(cè)試頻率、和電壓準(zhǔn)位,都是要考慮的因素。此外,還有包括由待測(cè)物的損耗因素、內(nèi)阻和儀器范圍帶來的誤差。度計(jì)算公式要將每一個(gè)影響精度的因素考慮在內(nèi)。

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